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          晶硅電池隱裂檢測

          主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測

          產品型號:LPsolar-SC100


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          技術參數
          產能 ≥3600片/小時
          最高檢測精度 150μm
          設備有效時間 99%
          破片率 <0.05%(傳輸剔除)
          重復性 99.85%
          電壓 220V AV
          功率 ≤1000W
          產品優勢
          • 一體化隱裂碎片檢測模塊
          • 全定制光學系統(售價更低,性能更好)
          • 高效AI算法(算法時間100ms以內)
          缺陷圖例
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